架空線路和站用瓷絕緣子的試驗項目、周期和要求
架空線路和站用瓷絕緣子的試驗項目、周期和要求
試驗項目
低（零）值絕緣子檢測
試驗周期
1） 投運后3年內(nèi)應(yīng)普測1次；
2）按年均劣化率調(diào)整檢測周期，當年均劣化率＜0.005%,檢測周期為5?6年；當年均劣化率為0.005%? 0.01%,檢測周期為4~5年；當年均劣化率＞0.01%,檢測周期為3年；
3）必要時。
試驗結(jié)果判斷依據(jù)
1）盤形懸式瓷絕緣子和10kV?35kV針式瓷絕緣子所測的絕緣電阻小于500MQ為低（零）值絕緣子；
2）所測低（零）值絕緣子年均劣化率大于0.02%時，應(yīng)分析原因，并逐只進行干工頻耐受電壓試驗。
試驗方法及說明
1）項1應(yīng)采用不小于5000V 的兆歐表；
2）項目2、項目3依據(jù)標準DL/T626；
3）測量電壓分布（或火花間隙）依據(jù)《帶電作業(yè)用火花間隙檢測裝置》DL/T415；
4）對于投運3年內(nèi)年均劣化率大于0.04%, 2年后檢測周期內(nèi)年均劣化率大于0.02% ,或年劣化率大于0.1%的絕緣子，或機械性能明顯下降的絕緣子，應(yīng)分析原因，并采取相應(yīng)措施。
試驗項目
干工頻耐受電壓試驗
試驗周期
1）投運后3年內(nèi)應(yīng)普測1次；
2）按年均劣化率調(diào)整檢測周期，當年均劣化率＜0.005%,檢測周期為5?6年；當年均劣化率為0.005%? 0.01%,檢測周期為4~5年；當年均劣化率＞0.01%,檢測周期為3年；
3）必要時。
試驗結(jié)果判斷依據(jù)1）盤形懸式瓷絕緣子應(yīng)施加60kV；
2）對大盤徑防污型絕緣子，施加對應(yīng)普通型絕緣子干工頻閃絡(luò)電壓值；
3）對10kV、35kV針式瓷絕緣子交流耐壓試驗電壓值分別為42kV及100kV。
測量電壓分布（或火花間隙）
試驗周期
1） 投運后3年內(nèi)應(yīng)普測1次；
2）按年均劣化率調(diào)整檢測周期，當年均劣化率＜0.005%,檢測周期為5?6年；當年均劣化率為0.005%? 0.01%,檢測周期為4~5年；當年均劣化率＞0.01%,檢測周期為3年；
試驗結(jié)果判斷依據(jù)1） 被測絕緣子電壓值低于50%標準規(guī)定值，判為劣化絕緣子；
2） 被測絕緣子電壓值高于50%的標準規(guī)定值，同時明顯低于相鄰兩側(cè)合格絕緣子的電壓值，判為劣化絕緣子；
3）在規(guī)定火花間隙距離和放電電壓下未放電，判為劣化絕緣子。
試驗項目
外觀檢查
試驗周期
必要時
試驗結(jié)果判斷依據(jù)
瓷件出現(xiàn)裂紋、破損，釉面缺損或灼傷嚴重，水泥膠合劑嚴重脫落，鐵帽、鋼腳嚴重銹蝕等判為劣化絕緣子。
試驗項目
機電破壞負荷試驗
試驗周期
必要時
試驗結(jié)果判斷依據(jù)
當機電破壞負荷低于85%額定機械負荷時，則判該只絕緣子為劣化絕緣子
試驗項目
絕緣子現(xiàn)場污穢度（SPS）測量
試驗周期
1）連續(xù)積污3年?6年
2）必要時試驗結(jié)果判斷依據(jù)
進行等值附鹽密度（ESDD）及不溶沉積物密度（NSDD）測量，得出現(xiàn)場污穢度（SPS），為連續(xù)積污3?5年后開始測量現(xiàn)場污穢度所測到的ESDD或NSDD最大值。必要時可延長積污時間。試驗方法及說明
1 ）測量方法按GB/T26218.1；
2）現(xiàn)場污穢度（SPS）等級的劃分參照附錄G
試驗項目
72.5kV及以上支柱瓷絕緣子超聲波探傷檢查
試驗周期
1）必要時試驗結(jié)果判斷依據(jù)
無裂紋和缺陷。
試驗方法及說明1）對多元件組合的整柱絕緣子，應(yīng)對每元件進行檢測；
2）測試方法可參考DL/T303。
